Оптимізація послідовностей тест-векторів в процесі тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв

На захист виносяться наступні нові наукові результати:

1.Математична модель для оптимізації послідовностей тест-векторів в процесі тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв.

Результат полягає в побудові математичної моделі, яка дозволяє систематизувати вихідні дані та здійснити наочний опис поведінки об’єкта діагностування під час проведення тестових випробувань в динамічних режимах роботи.

2.Методики та алгоритми підготовки вихідних даних для оптимізації послідовностей тест-векторів.

Результат полягає в розробці методик визначення можливості побудови послідовностей тест-векторів, які дозволять провести тестування об’єкта діагностування до глибини, що вимагається, а також в розробці методик та алгоритмів підготовки вихідних даних для оптимізації послідовностей тест-векторів з урахуванням особливостей прояву несправностей динамічного типу.

3.Методики та алгоритми оптимізації послідовностей тест-векторів в процесі тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв.

Результат полягає в розробці методик та алгоритмів оптимізації послідовностей тест-векторів з урахуванням перевіряючої здатності перехідних процесів, що виникають внаслідок прояву впливу несправностей динамічного типу під час зміни блоків тест-векторів, які подаються послідовно на об’єкт діагностування.

4.Спосіб апаратної реалізації умовних алгоритмів діагностування цифрових пристроїв в динамічних режимах.

Результат полягає в розробці способу, який дозволив здійснювати на апаратному рівні реалізацію умовних алгоритмів тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв з аналізом відповідних реакцій та визначенням наступних тест-векторів для подання на об’єкт діагностування в динамічних режимах роботи. Це надало можливість максимальним чином використовувати переваги послідовностей тест-векторів, отриманих внаслідок проведення оптимізації. Результат реалізовано у вигляді структурних і функціональних рішень автоматизованої системи тестового контролю та діагностування цифрових мікропроцесорних блоків.

Достовірність результатів перевірялася за допомогою комп’ютерного моделювання та експериментальних випробувань.

Практична цінність та результати впровадження. Дослідження виконувалися з урахуванням наступної практичної реалізації. Результати досліджень складають основу об’єктно-орієнтованих засобів програмної підтримки тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв. Метод апаратної реалізації умовних алгоритмів діагностування цифрових пристроїв в динамічних режимах визначає структуру та принципи функціонування автоматизованої системи тестового контролю та діагностування цифрових мікропроцесорних блоків, яка використовується для технічної підтримки процесу тестового комбінованого діагностування. Розроблені засоби надають можливість забезпечити підвищення ефективності та достовірності процесу тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв з пошуком несправностей статичного та динамічного типів.

Результати дисертації впроваджені в держбюджетній темі НДР №6Б-96 Теорія тестового комбінованого діагностування структур з компонентами підвищеного ступеня інтеграції (1996-1998рр.), а також в учбовому процесі кафедри комп’ютерних систем Технологічного університету Поділля.

Апробація роботи. Основні положення дисертаційної роботи доповідались та репрезентувались на ІІІ-й, IV-й та V-й науково-технічних конференціях Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах та конверсії виробництва (м. Хмельницький, 1995р., 1997-1998рр.) ; науково-технічній конференції Технологічний університет в системі реформування освітньої та наукової діяльності Подільського регіону (м. Хмельницький, 1995р.) ; наукових конференціях молодих вчених та студентів (м. Київ, 1996-1998рр.) ; IV-й міжнародній науково-технічній конференції Контроль і управління в технічних системах (м. Вінниця, 1997р.) ; науково-технічних конференціях професорсько-викладацького складу Технологічного університету Поділля (м. Хмельницький, 1995-1998рр.).

Публікації. За матеріалами дисертації опублікована 21 робота, в тому числі 9 статей,, 11 тез доповідей, отримано 1 позитивне рішення по заявці на винахід.

Стуктура та об’єм роботи. Дисертація складається з вступу, чотирьох глав, висновку, списку літератури з 164 найменувань та чотирьох додатків. Основна частина викладена на 150 сторінках друкованого тексту. Робота включає 20 ілюстрацій та 19 таблиць.

 

 

Вступ до дисертації містить обгрунтування актуальності теми, окреслення об'єкта та предмету дослідження, опис основних наукових результатів, їх новизни, достовірності та практичної цінності, а також відомості про впровадження, апробацію та структуру роботи.

Перший розділ присвячений огляду стану питання та формулюванню задач наукового дослідження. Розглянуті особливості сучасних цифрових мікропроцесорних пристроїв як об’єктів діагностування, проаналізовані переваги та недоліки послідовностей тест-векторів, що використовуються для реалізації алгоритмів діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв, а також методів їх оптимізації, розглянуті характерні риси прояву несправностей статичного та динамічного типів.

Як показав аналіз, сучасні цифрові мікропроцесорні пристрої характеризуються значним ускладненням внутрішньої структури та підвищенням робочої частоти. Це призводить до збільшення питомої ваги несправностей динамічного типу та ускладнення процесу побудови послідовностей тест-векторів, що використовуються при вирішенні задач контролю та діагностування таких пристроїв.

Аналіз переваг та недоліків послідовностей тест-векторів, використовуваних на сьогоднішній день, дозволив дійти висновку, що найбільш ефективними при тестуванні сучасних цифрових мікропроцесорних пристроїв є послідовності тест-векторів для тестового комбінованого діагностування, які реалізують умовні алгоритми з умовною зупинкою в динамічних режимах перевірки об’єкта діагностування. Такі послідовності тест-векторів передбачають можливість гнучкого корегування в процесі діагностування на підставі аналізу отриманих від об'єкта відповідних реакцій.

Недоліком умовних алгоритмів діагностування є орієнтованість на ідентифікацію несправностей статичного типу, що в значнiй мiрi знижує достовірність процесу дiагностування під час пошуку несправностей динамічного типу. Крім того, технічні засоби, які використовуються для реалізації умовних алгоритмів діагностування, передбачають програмне виконання аналізу отриманих відповідних реакцій та визначення наступних тест-векторів для подання на об’єкт діагностування, що визначає значну тривалість процесу тестування та знижує його ефективнiсть.

Дослідження методів оптимізації послідовностей тест-векторів привело до висновку, що існуючі методи спрямовані