Оптимізація послідовностей тест-векторів в процесі тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв

Чешун В. Н., Толстюк В. И. Алгоритм совмещения тест-векторов с неопределенными значениями отдельных разрядов //Актуальні проблеми техніки та суспільства: Збірник статей викладачів та наукових співробітників Технологічного університету Поділля. – Вип. 2. – Хмельницький: ТУП, 1996. – С. 185-194.

Глущак С. В., Чешун В. М. Структурний метод ідентифікації динамічних несправностей обчислювальних пристроїв //Контроль і управління в технічних системах. Книга за матеріалами четвертої міжнародної науково-технічної конференції. – Том 2. – Вінниця: ВДТУ, 1997- С. 174-176.

Особистий внесок. Всі основні результати дисертаційної роботи отримані автором самостійно. В роботах, написаних у співавторстві, автору належать: методики пошуку несправностей [1], математичні моделі та алгоритми [6, 7, 11, 12, 13], структурні та функціональні рішення технічних засобів для діагностування мікропроцесорних пристроїв та систем [2, 8, 9, 10, 14].

 

 

Чешун В. М. Оптимізація послідовностей тест-векторів в процесі тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв. -Рукопис.

Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата технічних наук за спеціальністю 05. 13. 05 – Елементи та пристрої обчислювальної техніки та систем керування. – Науково-виробнича корпорація “Київський інститут автоматики”, Київ, 1999.

Дисертацію присвячено питанням підвищення ефективності та достовірності тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв з пошуком несправностей статичного та динамічного типів шляхом розробки методик та алгоритмів оптимізації послідовностей тест-векторів, призначених для реалізації умовних алгоритмів діагностування на апаратному рівні. Розроблено математичну модель для оптимізації послідовностей тест-векторів, методики та алгоритми підготовки вихідних даних, а також методики та алгоритми оптимізації послідовностей тест-векторів в процесі тестового комбінованого діагностуванні цифрових мікропроцесорних пристроїв з урахуванням особливостей прояву несправностей динамічного типу. Розроблено спосіб реалізації умовних алгоритмів діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв на апаратному рівні. Наведені результати використання розроблених алгоритмів та технічних засобів.

Ключові слова: послідовності тест-векторів, оптимізація, тестове комбіноване діагностування, цифрові мікропроцесорні пристрої, несправності динамічного типу, умовні алгоритми діагностування.

 

 

Чешун В. Н. Оптимизация последовательностей тест-векторов в процессе тестового комбинированного диагностирования цифровых микропроцессорных устройств. -Рукопись.

Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук по специальности 05. 13. 05 – Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления. – Научно-производственная корпорация “Киевский институт автоматики”, Киев, 1999.

Диссертация посвящена вопросам повышения эффективности и достоверности тестового комбинированного диагностирования цифровых микропроцессорных устройств посредством разработки методик и алгоритмов оптимизации последовательностей тест-векторов, предназначенных для реализации условных алгоритмов диагностирования на аппаратном уровне.

Исследование современных цифровых микропроцессорных устройств как объекта диагностирования показало, что они характеризуются повышением сложности структуры и увеличением рабочих частот, приводящими к возрастанию удельного веса неисправностей динамического типа. Анализ применяемых на сегодняшний день алгоритмов диагностирования показал, что отличающиеся наибольшей эффективностью условные алгоритмы не обеспечивают необходимой производительности и достоверности процесса диагностирования цифровых микропроцессорных устройств при поиске неисправностей динамического типа. Это объясняется отсутствием эффективных методов оптимизации последовательностей тест-векторов, предназначенных для реализации условных алгоритмов диагностирования, с учетом особенностей проявления в процессе диагностирования неисправностей динамического типа.

Научная новизна работы заключается в разработке методов оптимизации последовательностей тест-векторов, предназначенных для реализации условных алгоритмов диагностирования на аппаратном уровне в динамических режимах работы и учитывающих возможность возникновения переходных процессов, которые обуславливаются проявлением неисправностей динамического типа в момент смены подаваемых на объект диагностирования блоков тест-векторов.

В диссертационной работе получены следующие новые научные результаты:

•математическая модель для оптимизации последовательностей тест-векторов в процессе тестового комбинированного диагностирования цифровых микропроцессорных устройств. Результат состоит в разработке математической модели, позволяющей осуществить наглядное отображение поведения объекта диагностирования при проведении тестовых испытаний в динамических режимах работы;

•алгоритмы и методики подготовки исходных данных для оптимизации последовательностей тест-векторов. Результат состоит в разработке методик определения возможности построения последовательностей тест-векторов, позволяющих провести тестирование объекта диагностирования до требуемой глубины, а также алгоритмов и методик подготовки исходных данных для оптимизации последовательностей тест-векторов с учетом особенностей проявления неисправностей динамического типа;

•алгоритмы и методики оптимизации последовательностей тест-векторов в процессе тестового комбинированного диагностирования цифровых микропроцессорных устройств. Результат состоит в разработке алгоритмов и методик оптимизации последовательностей тест-векторов, учитывающих проверяющую способность переходных процессов, которые возникают как результат проявления неисправностей динамического типа в момент

•смены блоков тест-векторов, подаваемых на объект диагностирования на высоких частотах;

•способ аппаратной реализации условных алгоритмов диагностирования цифровых устройств в динамических режимах. Результат состоит в разработке способа, который позволил осуществлять на аппаратном уровне реализацию условных алгоритмов диагностирования цифровых микропроцессорных устройств с анализом ответных реакций и определением последующих тест-векторов для подачи на объект диагностирования в динамических режимах работы, что дало возможность максимальным образом использовать преимущества последовательностей тест-векторов, полученных в ходе проведения оптимизации. Результат реализован в виде структурных и функциональных решений автоматизированной системы тестового контроля и диагностирования цифровых микропроцессорных блоков.

Ключевые слова: последовательности тест-векторов, оптимизация, тестовое комбинированное диагностирование, цифровые микропроцессорные устройства, неисправности динамического типа, условные алгоритмы диагностирования.

 

 

Cheshun V. N. Optimization of sequences the test – vector during the testing combined diagnosing of digital microprocessor devices. – Manuscript.

Thesis on competition of a scientific degree of the candidate of technik science by speciality 05. 13. 05 – Elements both devices of computer facilities and control systems. – Research-and-production corporation « The Kiev institute of automatics «, Kiev, 1999.

The thesis is devoted to questions of rise of efficiency and reliability of test combined diagnosing of digital microprocessor devices with search of faults of static and dynamic types by means of development of techniques and algorithms of optimization of sequences the test-vector intended for implementation of conditional algorithms of diagnosing at a hardware level. The mathematical model for optimization of sequences the test-vector, techniques and algorithms of preparation of input datas, and also technique and algorithms of optimization of sequences the test-vector is developed during combined diagnosing of digital microprocessor devices in view of features of display of faults of a dynamic type. The method of implementation of conditional algorithms of diagnosing of digital microprocessor devices at a hardware level is developed. The results of use of the developed algorithms and technical tools are given.

Key words: sequences the test-vector, optimization, test combined diagnosing, digital microprocessor devices, fault of a dynamic type, conditional algorithms of diagnosing.